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现代唇腭裂治疗学 第十章 唇腭裂正畸治疗(1)
时间: 2008年09月08日 来源:本站原创 作者: 佚名
9.后鼻棘点(PNS) 在解剖上该点是硬腭的最后界。在X线头颅测位片上,该点被上颌结节和翼突的影像所掩盖。因此,在确定该点时,把鼻底与翼上颌裂之间的交点定为PNS点。该区也常被尚未萌出的磨牙和软腭阴影所掩盖。
10.眶点(Or) 眶缘最下点。通常取两个眶点之间的中点,以构成眼耳平面。 11.翼上颌裂点(Ptm) 翼上颌裂在X线片上象一倒挂的泪珠。其最下端就是该点位置。翼上颌裂的前壁由上颌的后缘形成,该裂的后壁是翼突的前曲。该裂可用于确定后鼻棘点位置。在生长活跃期,该裂被视为颅内稳定的垂直平面。据认为生长是由该平面向前和向后进行的。在连续重叠的X线片描图上,翼上颌裂似乎是垂直向下运动。 12.下颌角点(Go) 该点位于升枝后缘和下颌下缘的交界处。常在下颌下缘和升枝后缘分别画切线,二线交角之平分线与下颌相交点就是下颌角点。 13.关节点(Ar) 关节点并不是一个解剖标志点。它是一个X线片上的一个点,由Bjork(1974)使用它代替解剖关节点(髁突最上点)。在X线头颅侧位标准片上,由于颅底的重叠密度,髁突头难以辨认。关节点位于升枝后缘和枕骨基部咽表面之间的交叉点。 14.Bolton 点(Bo) 该点是指枕髁后凹的最高点。这是双侧点,由Broadbent(1931)确定以代替颅底点。因颅底点在X线片上比较模糊。 15.耳点(P) 外耳道最上点。在X线片上常用头颅定位仪上的耳塞最上点替代之。这时,耳塞位置的正确与否是十分重要的。 在X线头影测量分析中,有三种不同的平面,分别是定位平面、重叠平面和解剖平面。定位平面用于确定头位,最常用的定位平面是眼耳平面。重叠平面用于重叠连续拍摄的X线片描图,以估计在生长和治疗期间颅面中的一些角度改变和线距改变。象前颅底平面和Bolton平面均是常用的重叠平面。解剖平面用于描述头颅中不同形态学单位之间的角度关系,例如腭平面与下颌平面所形成的角等。 1.眼耳平面(FH) 当左右耳点和左右眶点处于水平面时,我们说头位处于眼耳平面上。将X线片或描图处于眼耳平面上,以便精确确定象颏前点和颏下点之类的位置。如果将X线片旋转,则上述那些点将移位。 2.腭平面(PP) 指前鼻棘点和后鼻棘点的连线,它代表了中面部的下界。在正常的成人,腭平面穿过齿状突(odontoid process)顶和颅底点之间的空间。 3.牙合 平面(OP) 在X线头影测量分析中使用两个牙合 平面。一个是解剖牙合 平面,是指切牙覆牙合 中点和第一恒磨牙牙尖交错中点之间的连线。另一个是功能牙合 平面,即第一双尖牙和磨牙交错牙尖的平分线,该牙合 平面未包括切开。在分析前牙开牙合 或严重深覆牙合 时,功能性牙合 平面被用来建立与颅的角度关系。 4.下颌平面(MP) 下颌平面可用两种方式确定,这取决于使用什么分析法。在Downs分析法中,把下颌联合下缘和下颌体下缘的切线定为下颌平面。在Steiner分析中,下颌平面是指下颌角点(Go)与颏顶点(Gn)之间的连线。
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